| 測量精度 | ppm |
|---|---|
| 測量時間 | 60秒 |
| 測試范圍 | 0-99.989% |
| 產地 | 進口 |
| 電源電壓 | 220VHZ |
| 類型 | 多元素分析儀器 |
| 上市時間 | 2018 |
| 適用范圍 | 0-99.989%濃度值 |
| 品牌 | 其它 |
| 加工定制 | 是 |
| 可測元素 | 多元素 |
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。
對于地質、采礦、金屬、土壤、環境、考古、木材、電子、醫藥、環保、啤酒、電力、石油化工、玩具、大型工程、有害元素、鍋爐制造、電鍍鍍層、再生資源金屬、玻璃等各種元素分析.有兩種分析方法，物理分析和濕化學分析.物理分析一般是用X熒光光譜儀測試，使用簡單方便，濕化學分析一般是指實驗室使用的高精度分析設備，精度高，測試穩定，結果可信度高。
X射線熒光光譜分析儀：
X射線熒光光譜分析儀 應對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環境分析的產品，目前正服務于各大重要部門。
油品分析儀簡介
XRF油品分析儀，主要用于潤滑油、柴油燃料、噴氣燃料、煤油、其他蒸餾油、揮發油、殘油、液壓油、原油、無鉛汽油、酒精汽油、生物柴油和其他類似的石油產品等油品中的硫元素、磨損金屬、元素添加劑、污染物等的分析。
油品分析儀主要功能
硫分析
● 國際社會對石油化工產品尤其是油類產品中硫含量的限制管控已成為環保重點。燃油中如含有過高的硫，易與溶解在油中的空氣發生氧化反應，降低燃油的穩定性。
● 在燃油燃料過程中，硫亦會降低有毒排放物的轉化，造成發動機燃料系統腐蝕。此外，硫燃燒生成的二氧化硫也嚴重污染自然環境。
● 滿足ASTM D4294，該法規是指采用X射線熒光譜測定法對石油和石化產品中硫的檢測的標準測試方法，要求S的大致范圍為 17 ppm 到4%。
● 滿足ASTM D7220，該法規是指采用X射線熒光譜測定法對車輛燃油中硫的檢測的標準測試方法，要求S的大致范圍為6 ppm到 50 ppm，大多數規定要求< 10 ppm LOD。
磨損元素分析
● 通過對燃料油、添加劑、潤滑油的分析結果，可以監控特定磨損元素的變化趨勢，對Fe， Al，Mo，Cu 等元素進行檢測，根據不同的元素濃度, 判斷金屬機械磨損情況和機油更換的必要性，提早預防發動機或者運動零部件的損壞。
● 監控特定磨損元素對于多種類型的機械、重型卡車、礦業、航天、軍事和船舶的維護保養與正常運行具有至關重要的作用。
添加劑分析
●在溫度和重負下對精密設備的保護需要高質量的潤滑油,這種潤滑油要依據有機、金屬添加劑的特殊配方混合而成。
●滿足 ASTM D6481，該法規是指采用X射線熒光譜測定法對潤滑油中的鈣、磷、硫、鋅的的標準測試方法。
燃料和石化產品中的微量元素分析
●尋找催化劑中的殘留污染物
●在與生物燃料和乙醇混合中引入了微量污染元素
海洋船舶燃料的硫含量分析
地方法規中將控制SOx法人含量作為控制燃油硫含量的一種方法。特殊燃料質量規定排放控制地區存在于SOx 排放控制區(SOx ECA 或者 SECA)。這些地區包括港口和沿海線。
油品分析儀主要特點
易便攜：不到11KG ，單手柄可提，使“現場作業”成為可能
超快速：一分鐘快速檢測，使“按質換油”成為可能
高精度：分辨率高、重復性好使“準確測量”成為可能
多元素：性價比非常高，分析多種常見元素，使“全面分析”成為可能
油品分析儀技術性能
真正實現在現場進行無損、快速、準確的檢測，直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。
只需將樣品杯取樣，放在測試槽。
超快分析速度, 僅需1鐘就可檢測出元素含量。
用戶化Windows XPSP2操作系統系統驅動的微電腦顯示系統使所有功能皆可現場完成，用戶化Windows XPSP2操作系統僅保留有windows與Delta系統有關的性能，使程序更具靈活性。
無需借助電腦，可在現場隨意，查看，放大相關元素的光譜圖。
超大的功率。50KV，100MA高達5W的大功率X射線管技術使儀器具有更低檢測下限。
更高的檢測精度，多次測試的平均值統計功能可有效地提高儀器的檢測精度。
超大的圖標顯示，菜單式驅動，微電腦WINDOWS系統使儀器操作更加簡便。
電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。
超高的穩定性，超高的重復性，優異的線性相關性。
采用了完全重新設計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，某些應用信號提高了~40%.
新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應配置，不同的元素采用不同的濾波器，產生分析效果。
儀器有專用的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩定，從而故障率極低。
SDD X射線探測器具有驚人的計數率,高達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高10倍。
可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質元素。
儀器即使在開機狀態下也可更換電池而并不需要關機，在系統運作中拔掉電池，有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
儀器開機并不需要標準化，可以直接測試，標準化僅僅是可選項。
油品分析儀可分析的元素
| 油品分析儀的分析模式與元素種類 | |
| 分析模式 | 分析元素 |
| Analysis Elements in Beam 1-50KV | Primary: Sr Zr Mo Ag Cd Sn Sb Ba Also: Ti Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Hg As Se Pb Rb Le |
|
| |
| Analysis Elements in Beam 2-25KV | Primary: Fe Ni Cu Zn Also: Ca V Cr Pb Le |
| Analysis Elements in Beam 3-12KV | Primary: P S Cl Ca Cr Also : V Fe Le |
儀器的檢測下限
| 元素 | 檢測下限 |
| Al | 100 |
| Si | 50 |
| P | 25 |
| S | 8 |
| Cl | 15 |
| Mo | 1 |
| Ca | 7 |
| V | 1 |
| Mg | 1 |
| Fe | 1 |
| Co | 1 |
| Ni | 1 |
| Cu | 1 |
| Zn | 1 |
| Hg | 1 |
| As | 1 |
| Pb | 1 |
| Se | 1 |
實驗室使用的儀器（ICP)：
儀器技術參數：
1、輸入電源：電壓交流220V，電流20A。
2、采用CzernyTurner型光路，焦距為1000mm。
3、離子刻蝕全息光柵，刻劃面積（80×110）mm。
4、全自動一鍵點火，自動匹配，點火穩定、便捷。
5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室，1ppmMn強度＞1000000cps。
6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻線光柵）；≤0、008nm（3600刻線光柵）；≤0、015nm（2400刻線光柵）。
7、波長范圍：190-460nm（4320刻線光柵）；190-500nm（3600刻線光柵）；190-800nm（2400刻線光柵）
8、自主研發全固態射頻電源，輸出功率800-1600W,連續可調，電源效率大于65%，工作頻率27、12MHz，頻率穩定性＜0、05%，功率輸出穩定性＜0、05%。
典型元素檢出限（μg/L）：
| 元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
| 波長(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
| 檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
| 元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
| 波長(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
| 檢出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
| 元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
| 波長（nm） | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
| 檢出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
| 元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
| 波長(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
| 檢出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
| 元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
| 波長(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
| 檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
| 元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
| 波長(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
| 檢出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
| 元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
| 波長(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
| 檢出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
| 元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
| 波長(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
| 檢出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
| 元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
| 波長(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
| 檢出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
