日立HITACHI 臺(tái)式 XRF 光譜儀 | Lab-X 和 X-Supreme 系列

XRF分析（X射線熒光）具有高度靈活和強(qiáng)大的能量分散X射線熒光（EDXRF）光譜儀X-Supreme8000和Lab-X5000，用于各種應(yīng)用的質(zhì)量保證和過(guò)程控制要求，例如石油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥、紙張。

軟件優(yōu)勢(shì)：

操作方便
自動(dòng)采樣
靈活校準(zhǔn)以適應(yīng)新的標(biāo)準(zhǔn)
自動(dòng)突出顯示您正在分析的內(nèi)容以獲得可瀏覽的結(jié)果
快速測(cè)量
大樣品艙滿足各種樣品
視聽(tīng)測(cè)量指示器
添加鍍層和元素分析的選項(xiàng)

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

你可以信任的結(jié)果
一個(gè)集成的樣品旋轉(zhuǎn)器在測(cè)量過(guò)程中旋轉(zhuǎn)樣品，確保結(jié)果是可重復(fù)的，即使對(duì)于不均勻的樣品，如粉末。用戶錯(cuò)誤小化：分析儀易于使用，簡(jiǎn)單的一鍵啟動(dòng)，直觀的用戶界面和大面積易于閱讀的顯示器。

快速質(zhì)量控制
快速分析意味著我們的分析儀可用于生產(chǎn)的任何階段，以快速反饋材料成分和質(zhì)量。

堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
自動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)將樣品從關(guān)鍵分析儀部件上移開(kāi)，以大限度地降低損壞風(fēng)險(xiǎn)，并確保低維護(hù)成本。分析儀由堅(jiān)固的、經(jīng)過(guò)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的部件和工業(yè)級(jí)PC構(gòu)成。這些特點(diǎn)意味著臺(tái)式XRF系列足夠堅(jiān)固，可以在苛刻的生產(chǎn)設(shè)施中使用。

低運(yùn)行成本
氦的使用和成本保持在低水平——大多數(shù)測(cè)量可以在環(huán)境空氣中進(jìn)行。所需消耗品很少，維護(hù)成本極低，特別是與其他方法（如比較項(xiàng)目）相比。